Estudo de monocristais de silicio czochralski pelos metodos: pseudo kossel e espalhamento difuso de raios x
A determinação do estado de deformação de monocristais planos através da técnica pseudo-Kossel, combinada com o estudo do espalhamento difuso de raios X próximo a uma reflexão de Bragg, permite uma caracterização dos defeitos quanto a sua natureza, tamanho e simetria se houver poucas variedades de d...
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| Format: | Others |
| Language: | pt |
| Published: |
Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP
1988
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43133/tde-14062012-165956/ |