Um modelo Bayesiano semi-paramétrico para o monitoramento ``on-line\" de qualidade de Taguchi para atributos
Este modelo contempla o cenário em que a sequência de frações não-conformes no decorrer de um ciclo do processo de produção aumenta gradativamente (situação comum, por exemplo, quando o desgaste de um equipamento é gradual), diferentemente dos modelos de Taguchi, Nayebpour e Woodall e Nandi e Sreeha...
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| Format: | Others |
| Language: | pt |
| Published: |
Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP
2009
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/45/45133/tde-09072013-090428/ |