Um modelo Bayesiano semi-paramétrico para o monitoramento ``on-line\" de qualidade de Taguchi para atributos

Este modelo contempla o cenário em que a sequência de frações não-conformes no decorrer de um ciclo do processo de produção aumenta gradativamente (situação comum, por exemplo, quando o desgaste de um equipamento é gradual), diferentemente dos modelos de Taguchi, Nayebpour e Woodall e Nandi e Sreeha...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Tsunemi, Miriam Harumi
Other Authors: Esteves, Luís Gustavo
Format: Others
Language:pt
Published: Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP 2009
Subjects:
Online Access:http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/45/45133/tde-09072013-090428/