Crescimento e caracterização de heteroestruturas tensionadas de InxGa1-x-As/GaAs

Utilizando a técnica de epitaxia por feixe molecular (MBE), crescemos heteroestruturas tensionadas de InxGa1-xAs sobre substratos de GaAs (100). A composição de In, a espessura para a transição 2D-3D e a espessura crítica (hc) foram determinadas através da análise \"in situ\" pelo RHEED. O...

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Bibliographic Details
Main Author: Ceschin, Artemis Marti
Other Authors: Li, Maximo Siu
Format: Others
Language:pt
Published: Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP 1992
Subjects:
Online Access:http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/54/54132/tde-06022014-104232/