Reliability study of advanced 2T-FNFN-NOR embedded memory devices
Estágio realizado na NXP Semiconductor, Nijmegen (Holanda) e orientado pelo Doutor Guoqiao Tao === Tese de mestrado integrado. Engenharia Electrotécnica e de Computadores (Major Telecomunicações). Faculdade de Engenharia. Universidade do Porto. 2009
| Main Author: | |
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| Other Authors: | |
| Format: | Others |
| Language: | English |
| Published: |
2009
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://hdl.handle.net/10216/66710 |