Contribution à l'étude de l'adhérence des structures du type couche sur substrat par modes de Rayleigh générés et détectés par sources laser

La caractérisation non destructive de l’adhérence des structures du type couche sur substrat est un enjeu industriel et académique important. Ce type d’échantillon est en effet utilisé pour de nombreuses applications et sa durée de vie dépend en grande partie de la qualité d’adhérence des films au s...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Robin, Martin
Other Authors: Valenciennes
Language:fr
Published: 2019
Subjects:
Online Access:http://www.theses.fr/2019VALE0015/document