Monitoring of temperature effects on CMOS memories
La complexité des systèmes électroniques ne cesse d’augmenter, tout comme la tendance actuelle de miniaturisation des transistors. La fiabilité est ainsi devenue un continuel défi. Les environnements hostiles caractérisés par des conditions extrêmes de hautes températures affectent le bon fonctionne...
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| Language: | en |
| Published: |
2018
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://www.theses.fr/2018MONTS091/document |