Analyse multimodale et multicritères pour l'expertise et la localisation de défauts dans les composants électriques modernes
Ce manuscrit de thèse illustre l’ensemble des travaux de recherche répondant aux problématiques de traitement des données issues des techniques de localisation de défauts. Cette phase de localisation étant une étape déterminante dans le processus d’analyse de défaillances des circuits submicroniques...
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| Language: | fr |
| Published: |
2017
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| Online Access: | http://www.theses.fr/2017UBFCK014/document |