Analysis and modeling methods for predicting functional robustness of integrated circuits during fast transient events
La miniaturisation des circuits intégrés se poursuit de nos jours avec le développement de technologies toujours plus fines et denses. Elle permet une intégration des circuits toujours plus massive, avec des performances plus élevées et une réduction des coûts de production. La réduction de taille d...
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Language: | en |
| Published: |
2017
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://www.theses.fr/2017TOU30046/document |