Study and characterization of electrical overstress aggressors on integrated circuits and robustness optimization of electrostatic discharge protection devices
Cette thèse de doctorat s’inscrit dans la thématique de la fiabilité des circuits intégrés dans l’industrie de la microélectronique. Un circuit intégré peut être exposé à des agresseurs électriques potentiellement dangereux pendant toute sa durée de vie. Idéalement, les circuits devraient pouvoir en...
| Main Author: | |
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| Language: | en |
| Published: |
2017
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| Online Access: | http://www.theses.fr/2017LYSEI044 |