Contribution à l'analyse de la susceptibilité électromagnétique des composants : Caractérisation et modélisation des étages d'entrée des circuits intégrés numériques

La prolifération des composants électroniques fait que l'étude de leur vulnérabilité face à des agressions électromagnétiques intentionnelles ou non devient de plus en plus préoccupante. Notre étude s'inscrit dans ce contexte et s'oriente plus particulièrement vers les composants numé...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Kane, Ibrahim
Other Authors: Limoges
Language:fr
Published: 2016
Subjects:
Online Access:http://www.theses.fr/2016LIMO0119/document