Méthodes de mesure pour l’analyse vectorielle aux fréquences millimétriques en technologie intégrée
Cette thèse porte sur l’étude des méthodes de mesure pour l’analyse vectorielle des circuits microélectroniques en technologie intégrée aux fréquences millimétriques. Pour réussir à extraire les paramètres intrinsèques de circuits réalisés aux longueurs d'ondes millimétriques, les méthodes actu...
| Main Author: | |
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| Other Authors: | |
| Language: | en |
| Published: |
2016
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| Online Access: | http://www.theses.fr/2016GREAT035/document |