Développement d’une imagerie de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice en mode contact intermittent
Le microscope à force atomique (AFM) permet de caractériser avec une excellente résolution spatiale les surfaces d’échantillons de différentes natures et peut être mis en œuvre dans des milieux variés. Cette versatilité a favorisé le développement d’un grand nombre de techniques dérivées, destinées...
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Language: | fr |
| Published: |
2015
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://www.theses.fr/2015PA112058/document |