Mesure de durée de vie de porteurs minoritaires dans les structures semiconductrices de basse dimensionnalité
La durée de vie des porteurs minoritaires est l'un des principaux paramètres mesurés dans les semi-conducteurs et la décroissance de photoconductivité (PCD) l'une des méthodes les plus largement utilisées pour ce type de mesure. Aujourd'hui, grâce aux divers équipements automatisés, l...
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| Language: | fr |
| Published: |
2015
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| Online Access: | http://www.theses.fr/2015GREAT024 |