Coupling of electron spectroscopies for high resolution elemental depth distribution profiles in complex architectures of functional materials
Ce travail de thèse est focalisé sur la détermination, de manière non-destructive, d'interfaces profondément enterrées dans des empilements multi-couches utilisés dans les conditions de technologie réelles au travers d'une méthode innovante basée sur la photoémission avec utilisation de ra...
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Language: | en |
Published: |
2015
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Subjects: | |
Online Access: | http://www.theses.fr/2015ECDL0047/document |