Coupling of electron spectroscopies for high resolution elemental depth distribution profiles in complex architectures of functional materials

Ce travail de thèse est focalisé sur la détermination, de manière non-destructive, d'interfaces profondément enterrées dans des empilements multi-couches utilisés dans les conditions de technologie réelles au travers d'une méthode innovante basée sur la photoémission avec utilisation de ra...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Risterucci, Paul
Other Authors: Ecully, Ecole centrale de Lyon
Language:en
Published: 2015
Subjects:
Online Access:http://www.theses.fr/2015ECDL0047/document