Thermal Characterization of In-Sb-Te thin films for Phase Change Memory Application

Thermal Characterization of In-Sb-Te thin films for Phase Change Memory Application

Les matériaux à changement de phase (PCM) sont utilisés pour la réalisation de mémoire non volatile. Ces matériaux possèdent la particularité de passer d’un état cristallin à un état amorphe à l’aide d’une impulsion de chaleur, créant ainsi un processus propre au stockage de l’information. Les PCMs...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Nguyen, Huu tan
Other Authors: Bordeaux
Language:en
Published: 2015
Subjects:
Mémoire à changement de phase
In-Sb-Te
Conductivité thermique
Conductivité thermique à l’interface
Phase change memory
In-Sb-Te ternary
Thermal conductivity
Thermal boundary resistance.
Online Access:http://www.theses.fr/2015BORD0112/document

Internet

http://www.theses.fr/2015BORD0112/document

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