Étude par ARPES et STS des propriétés éléctroniques de réseaux métalliques et organiques nanostructurés

Étude par ARPES et STS des propriétés éléctroniques de réseaux métalliques et organiques nanostructurés

Dans ce travail nous démontrons, au travers de deux études, l'intérêt fondamental du couplage des techniques de photoémission résolue en angle (ARPES) et de spectroscopie tunnel (STS) dans l'analyse des propriétés électroniques d'interfaces nanostructurées. Dans la première partie, no...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Vasseur, Guillaume
Other Authors: Université de Lorraine
Language:fr
Published: 2014
Subjects:
Photoémission résolue en angle
Microscopie et spectroscopie à effet tunnel
Diffraction d’électrons lents
Surface nanostructurée
Structure électronique
État de Shockley
K/Ag/Cu(111)
Potentiel de surface
Dibromobenzène
Diiodobenzène
Couplage d’Ullmann
Polymérisation
Poly(p-phénylène)
Angle resolved photoemission spectroscopy
Scanning tunneling microscopy and spectroscopy
Low energy electron diffraction
Nanostructured surface
Electronic properties
Shockley state
Surface potential
Dibrobenzene
Ullmann coupling
Polymerization
Poly(p-phenylene)
530.412
620.192
Online Access:http://www.theses.fr/2014LORR0151/document

Internet

http://www.theses.fr/2014LORR0151/document

Similar Items