Développement et caractérisation de nouveaux procédés de passivation pour les capteurs d'images CMOS
La conception des futures générations de capteurs d'images CMOS, nécessite l'intégration de structures 3D telles que les tranchées profondes d'isolation, ou encore l'adoption de nouvelles architectures telles que les capteurs d'images à illumination face arrière. Cependant,...
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| Language: | fr |
| Published: |
2013
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| Online Access: | http://www.theses.fr/2013LYO10186 |