Développement de procédés de mesure spatialement résolue de la nano-topographie sur distances centimétriques : application au polissage mécano-chimique

Le polissage mécano-chimique (CMP) en raison de spécifications sévères, telles que l‘aplanissement de la surface à ± 5 nm, est devenu un enjeu crucial pour le développement des nœuds technologiques 14 nm et au-delà. Les méthodes actuelles de caractérisation de la topographie, limitées en termes de t...

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Bibliographic Details
Main Author: Dettoni, Florent
Other Authors: Grenoble
Language:fr
Published: 2013
Subjects:
Die
Online Access:http://www.theses.fr/2013GRENY026/document