Fiabilisation de convertisseurs analogique-numérique à modulation Sigma-Delta
Ce travail de thèse a porté sur des problèmes de fiabilité de circuits intégrés en technologie CMOS 65 nm, en particulier sur la conception en vue de la fiabilité, la simulation et l'amélioration de la fiabilité. Les mécanismes dominants de vieillissement HCI et NBTI ainsi que la variation du p...
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| Language: | en fr |
| Published: |
2013
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://www.theses.fr/2013ENST0046/document |