Solidification dirigée du silicium multi-cristallin pour les applications photovoltaïques : caractérisation in situ et en temps réel par imagerie X synchrotron
Nous avons étudié in situ et en temps réel la structure de grains du silicium multi-cristallin issue de la solidification dirigée en utilisant l’imagerie X synchrotron. La radiographie X permet de suivre l’évolution de l’interface solide/liquide et de caractériser sa dynamique et sa morphologie....
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Language: | fr |
| Published: |
2013
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://www.theses.fr/2013AIXM4319/document |