Méthodes et architectures basées sur la redondance modulaire pour circuits combinatoires tolérants aux fautes

Dans cette thèse, nous nous intéressons à la recherche d’architectures fiables pour les circuits logiques. Par ”fiable”, nous entendons des architectures permettant le masquage des fautes et les rendant de ce fait ”tolérantes" à ces fautes. Les solutions pour la tolérance aux fautes sont basées...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Ban, Tian
Other Authors: Paris, ENST
Language:en
fr
Published: 2012
Subjects:
Online Access:http://www.theses.fr/2012ENST0038/document