Etude de transistors en couches minces à base de silicium polymorphe pour leur application aux écrans plats à matrice active LCD ou OLED

Etude de transistors en couches minces à base de silicium polymorphe pour leur application aux écrans plats à matrice active LCD ou OLED

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Ce travail a pour objectifs d'apporter des connaissances au niveau des propriétés électriques de transistors en couches minces (TFTs) à base de silicium polymorphe (pm-Si :H), ainsi qu'au niveau de la structure du matériau polymorphe. Nous nous sommes également intéressé à une nouvelle mét...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Brochet, Julien
Other Authors: Grenoble
Language:fr
Published: 2011
Subjects:
Transistors en couches minces
Silicium amorphe
Silicium polymorphe
Silicium polycristallin
Stabilité électrique et cristallisation.
Thin film transistor
Electrical stability
Amorphous silicon
Polycristalline silicon
Crystallization
Online Access:http://www.theses.fr/2011GRENT078/document

Internet

http://www.theses.fr/2011GRENT078/document

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