Fiabilité de diodes laser de forte puissance 808 nm microassemblées pour des applications spatiales : approche expérimentale et modélisations par éléments finis

Fiabilité de diodes laser de forte puissance 808 nm microassemblées pour des applications spatiales : approche expérimentale et modélisations par éléments finis

Ces travaux de thèse ont pour objectif de proposer une nouvelle technique de caractérisation électro-optique de barrettes de diodes Laser de puissance (DLPs), au niveau émetteur individuel à partir d'un banc dédié, utilisées pour le pompage optique à 808nm de système LIDAR en environnement spat...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Rehioui, Othman Elmehdi
Other Authors: Bordeaux 1
Language:fr
Published: 2011
Subjects:
Optoélectronique
Diode laser de puissance
Caractérisation électro-optique
Degré de polarisation
Régime QCW
Simulation par éléments finis
Fiabilité
Optoelectronics
Laser diode array
Laser diode bars
Electro-optical characterization
Degree of polarization
QCW mode
Finite element simulation
Reliability
Online Access:http://www.theses.fr/2011BOR14275/document

Internet

http://www.theses.fr/2011BOR14275/document

Similar Items