Apport de l’analyse élémentaire (IBA) et moléculaire (ToF-SIMS) par faisceaux d’ions à l’étude de matériaux d’intérêt environnemental et pharmaceutique
Les faisceaux d’ions de l’ordre du MeV permettent la mise en œuvre de techniques d’analyse tant élémentaire (Ion Beam Analysis-IBA) que moléculaire (Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) pour des matériaux solides peu étudiés en raison de leur hétérogénéité: les mélanges de poudres. La pre...
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| Language: | fr |
| Published: |
2009
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://www.theses.fr/2009LYO10302 |