デバイス特性推定に基づく集積回路の適応型テストに関する研究

京都大学 === 0048 === 新制・課程博士 === 博士(情報学) === 甲第18624号 === 情博第548号 === 新制||情||97(附属図書館) === 31524 === 京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻 === (主査)教授 佐藤 高史, 教授 小野寺 秀俊, 教授 髙木 直史 === 学位規則第4条第1項該当 === Doctor of Informatics === Kyoto University === DFAM...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: 新谷, 道広
Other Authors: 佐藤, 高史
Format: Doctoral Thesis
Language:Japanese
Published: 京都大学 (Kyoto University) 2014
Subjects:
007
Online Access:http://hdl.handle.net/2433/192224