走査トンネル顕微鏡による金属・半導体表面のトンネル障壁に関する研究

Kyoto University (京都大学) === 0048 === 新制・論文博士 === 博士(工学) === 乙第10926号 === 論工博第3650号 === 新制||工||1242(附属図書館) === UT51-2002-G500 === (主査)教授酒井明, 教授長村光造, 教授松重和美 === 学位規則第4条第2項該当

Bibliographic Details
Main Author:	黒川, 修
Other Authors:	酒井, 明
Format:	Others
Language:	Japanese
Published:	京都大学 (Kyoto University) 2011
Subjects:	500
Online Access:	http://hdl.handle.net/2433/149839

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走査トンネル顕微鏡による金属・半導体表面のトンネル障壁に関する研究

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