走査トンネル顕微鏡による金属・半導体表面のトンネル障壁に関する研究

Kyoto University (京都大学) === 0048 === 新制・論文博士 === 博士(工学) === 乙第10926号 === 論工博第3650号 === 新制||工||1242(附属図書館) === UT51-2002-G500 === (主査)教授 酒井 明, 教授 長村 光造, 教授 松重 和美 === 学位規則第4条第2項該当

Bibliographic Details
Main Author: 黒川, 修
Other Authors: 酒井, 明
Format: Others
Language:Japanese
Published: 京都大学 (Kyoto University) 2011
Subjects:
500
Online Access:http://hdl.handle.net/2433/149839