A Reliability-aware Write Termination Scheme for Resistive Random Access Memory

碩士 === 國立清華大學 === 電機工程學系 === 105 === 因申請專利緣故,資料延後公開。

Bibliographic Details
Main Authors: Lin, Wen Zhang, 林文章
Other Authors: Chang, Meng Fan
Format: Others
Language:en_US
Published: 2016
Online Access:http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/3k59pp