紅外線光學薄膜殘留應力量測暨光學外差偏振干涉儀量測旋光性之研究

博士 === 中正理工學院 === 國防科學研究所 === 81 ===

Bibliographic Details
Main Authors: JIN, HONG-JUN, 金鴻鈞
Other Authors: ZHOU, CHENG
Format: Others
Language:zh-TW
Published: 1993
Online Access:http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/39641265568860204774