Test pattern qeneration system for compacted test sets

碩士 === 國立臺灣大學 === 電機工程研究所 === 79 ===

Bibliographic Details
Main Author: 李茂雄
Other Authors: FENG, WU-XIONG
Format: Others
Language:zh-TW
Published: 1991
Online Access:http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/95373711813027560860