疊紋拓樸影像處理3維光學精密量測
碩士 === 國立中央大學 === 光電(科學)研究所 === 78 === (1) 由實驗結果圖2-1-1 到2-3-2 不難發現，α角越大，詁紋線越密，線間代表的高 度落差越小，這表示精確度隨α角越大而越高，這點證明1-2-(c) 節的推論不假。 如果α角過大，在待測物表面起伏大的地方，詁紋將會非常密集，嚴重者甚至將會無 法解析分辨它們，觀察圖2-3-2 便可得知此一現象。 (2) 由圖2-4-1 到2-6-4...
| Main Authors: | , |
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| Other Authors: | |
| Format: | Others |
| Language: | zh-TW |
| Published: |
1991
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| Online Access: | http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/18834199587675208529 |