Integration of a visual tracking system into a four probe measuring system to evaluate the electrical sheet resistance of thin films
En los últimos años, las películas delgadas han sido ampliamente estudiadas debido a la amplia gama de aplicaciones técnicas que presentan, algunas de las cuales están determinadas por sus propiedades eléctricas tales como la resistividad. Generalmente, algunas propiedades medidas en la macroesca...
| Main Author: | |
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| Other Authors: | |
| Format: | Dissertation |
| Language: | English |
| Published: |
Pontificia Universidad Católica del Perú
2017
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://hdl.handle.net/20.500.12404/8993 |