Application de l'algorithme EM au modèle des risques concurrents avec causes de panne masquées

Dans un modèle de durées de vie avec des risques concurrents, les systèmes peuvent tomber en panne dans le temps. Ces pannes sont dues à une cause parmi plusieurs possibles et il arrive parfois que celle-ci soit inconnue. C'est alors qu'on peut faire appel à l'algorithme EM pour calcu...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Michaud, Isabelle
Other Authors: Duchesne, Thierry
Format: Dissertation
Language:French
Published: Université Laval 2005
Subjects:
Online Access:http://hdl.handle.net/20.500.11794/18084