Funkcinių testų skaitmeniniams įrenginiams projektavimas ir analizė

Funkcinių testų skaitmeniniams įrenginiams projektavimas ir analizė

Projekto tikslas – sukurti sistemą, skirtą schemų testinių atvejų atrinkimui naudojant „juodos dėžės“ modelius ir jiems pritaikytus gedimų modelius. Vykdant projektą buvo atlikta kūrino būdų ir technologijų analizė. Sistemos architektūra buvo kuriama atsižvelgiant į reikalavimą, naudoti schemų model...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Narvilas, Rolandas
Other Authors: Motiejūnas, Kęstutis
Format: Dissertation
Language:Lithuanian
Published: Lithuanian Academic Libraries Network (LABT) 2011
Subjects:
Informatics
Schemų testavimas
Gedimų modeliai
Funkcinių testų sudarymas
Vėlinimo gedimų modeliai
„juodos dėžės“ gedimų modeliai
Circuit testing
Fault models
Functional test generation
Delay fault models
Black-box fault models
Online Access:http://vddb.laba.lt/fedora/get/LT-eLABa-0001:E.02~2011~D_20110831_144520-57273/DS.005.0.02.ETD

Internet

http://vddb.laba.lt/fedora/get/LT-eLABa-0001:E.02~2011~D_20110831_144520-57273/DS.005.0.02.ETD

Similar Items