Método para análise dos riscos operacionais associados a falhas epidêmicas de novos produtos eletrônicos: uma proposta utilizando redes bayesianas

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Bibliographic Details
Main Author: Rossi Filho, Tito Armando
Other Authors: http://lattes.cnpq.br/2828871234344046
Language:Portuguese
Published: Universidade do Vale do Rio dos Sinos 2015
Subjects:
ACCNPQ::Engenharias::Engenharia de Produção
Riscos operacionais
Redes bayesianas
Indústria eletrônica
Confiabilidade
Operational risks
Bayesian networks
Electronics industry
Reliability
Online Access:http://www.repositorio.jesuita.org.br/handle/UNISINOS/3164

Internet

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