Reuse-based test planning for core-based systems-on-chip
O projeto de sistemas eletrônicos atuais segue o paradigma do reuso de componentes de hardware. Este paradigma reduz a complexidade do projeto de um chip, mas cria novos desafios para o projetista do sistema em relação ao teste do produto final. O acesso aos núcleos profundamente embutidos no sistem...
| Main Author: | |
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| Other Authors: | |
| Format: | Others |
| Language: | English |
| Published: |
2007
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://hdl.handle.net/10183/4180 |