Functional timing analysis of VLSI circuits containing complex gates

Functional timing analysis of VLSI circuits containing complex gates

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Os recentes avanços experimentados pela tecnologia CMOS tem permitido a fabricação de transistores em dimensões submicrônicas, possibilitando a integração de dezenas de milhões de dispositivos numa única pastilha de silício, os quais podem ser usados na implementação de sistemas eletrônicos muito co...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Guntzel, Jose Luis Almada
Other Authors: Reis, Ricardo Augusto da Luz
Format: Others
Language:English
Published: 2007
Subjects:
Microeletrônica
Cad : Microeletronica
Portas logicas
Análise : Timing
Design verification of VLSI circuits
Timing analysis
Functional timing analysis (FTA)
Path sensitization problem
Critical delay estimation
Complex gates
Automatic test pattern generation (ATPG)
Satisfiability (SAT)
Online Access:http://hdl.handle.net/10183/1883

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