Functional timing analysis of VLSI circuits containing complex gates

Functional timing analysis of VLSI circuits containing complex gates

Show other versions (2)

Os recentes avanços experimentados pela tecnologia CMOS tem permitido a fabricação de transistores em dimensões submicrônicas, possibilitando a integração de dezenas de milhões de dispositivos numa única pastilha de silício, os quais podem ser usados na implementação de sistemas eletrônicos muito co...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Guntzel, Jose Luis Almada
Other Authors: Reis, Ricardo Augusto da Luz
Format: Others
Language:English
Published: 2007
Subjects:
Microeletrônica
Cad : Microeletronica
Portas logicas
Análise : Timing
Design verification of VLSI circuits
Timing analysis
Functional timing analysis (FTA)
Path sensitization problem
Critical delay estimation
Complex gates
Automatic test pattern generation (ATPG)
Satisfiability (SAT)
Online Access:http://hdl.handle.net/10183/1883

Internet

http://hdl.handle.net/10183/1883

Similar Items