Single event transient effects in clock distribution networks
A redução na escala dos semicondutores tem aumentado a suceptibilidade de componentes eletrônicos a radiação. Single event transient (SET) afeta cada vez mais os circuitos integrados. Os efeitos da radiação podem afetar as redes de relógio dos circuitos integrados. Durante o impacto de uma partícula...
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Others |
| Language: | English |
| Published: |
2015
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://hdl.handle.net/10183/114809 |