Estudo das propriedades estruturais e óticas de filmes finos de óxido de vanádio com diferentes espessuras depositados por evaporação térmica

Neste trabalho, filmes finos de V2O5 foram depositados pela técnica de evaporação resistiva em alto vácuo, e suas propriedades optoeletroquímicas e estruturais foram investigadas. O objetivo foi o de avaliar sua capacidade de intercalação de íons de lítio, e as consequentes alterações cromáticas, co...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Luís Henrique Cardozo Amorin
Other Authors: Alexandre Urbano .
Language:Portuguese
Published: Universidade Estadual de Londrina. Centro de Ciências Exatas. Programa de Pós-Graduação em Física. 2013
Online Access:http://www.bibliotecadigital.uel.br/document/?code=vtls000185183