Pseudo jahn-teller versus reconstrucao quimica : oxigenio em silicio.

Pseudo jahn-teller versus reconstrucao quimica : oxigenio em silicio.

Estudamos neste trabalho o comportamento da impureza oxigênio em rede cristalina de silício, usando primeiramente o método INDO (lntermediate Neglect of Differential Overlap) com parametrização espectroscópica e incluímos os efeitos de muitos elétrons via Método CI-(Interacão de Configuração). F...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Francisco de Paula Camargo
Other Authors: Kazunori Watari
Language:Portuguese
Published: Universidade de São Paulo 1990
Subjects:
Correlação Eletrônica
Defeitos em semicondutores
Impureza O (Oxigênio) em Si (Silício)
Método: INDO (Intermediate Neglect of Differential Overlap) CI (Configuration Interaction)
Defects in semiconductors
Electronic Correlation
Impurity O (Oxygen) on Si (Silicon)
Method: INDO (Intermediate Neglect of Differential Overlap) - CI (Configuration Interaction)
Online Access:http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43133/tde-28042014-160842/

Internet

http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43133/tde-28042014-160842/

Similar Items