Novo método para medida da permitividade complexa em ultra-baixas frequências

No presente trabalho descreve-se: a determinação da permitividade dielétrica complexa através de medidas de fase; a aplicação de técnicas de correlação e análise em séries de Fourier, para a determinação da fase, amplitude, qualidade e deformação do sinal atrasado; os circuitos eletrônicos do me...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Jan Frans Willem Slaets
Other Authors: Sergio Mascarenhas Oliveira
Language:Portuguese
Published: Universidade de São Paulo 1979
Subjects:
Online Access:http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/54/54132/tde-18082014-171054/