Investigação de interações hiperfinas em silício puro e silício NTD pela técnica de correlação angular gama-gama perturbada

Investigação de interações hiperfinas em silício puro e silício NTD pela técnica de correlação angular gama-gama perturbada

O presente trabalho realiza a investigação de interações hiperfinas em amostras de silício monocristalino através da técnica de Correlação Angular γ-γ Perturbada (CAP), baseada em interações hiperfinas. Para a realização das medidas, utilizou-se núcleos de prova radioativos d...

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Bibliographic Details
Main Author: Moacir Ribeiro Cordeiro
Other Authors: Artur Wilson Carbonari
Language:Portuguese
Published: Universidade de São Paulo 2007
Subjects:
correlação angular
defeitos
NTD
semicondutores
differential pac
doped materials
gamma radiation
hyperfine structure
magnetic fields
perturbed angular correlation
silicon
Online Access:http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85131/tde-16042012-101025/

Internet

http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85131/tde-16042012-101025/

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