Aplicação de modelos de defeitos na geração de conjuntos de teste completos a partir de Sistemas de Transição com Entrada/Saída

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Bibliographic Details
Main Author: Sofia Larissa da Costa Paiva
Other Authors: Adenilso da Silva Simão
Language:Portuguese
Published: Universidade de São Paulo 2016
Subjects:
Online Access:http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/55/55134/tde-11072016-172020/