Aplicações do método Warren-Averbach de análise de perfis de difração
O objetivo deste trabalho foi desenvolver e implementar uma metodologia envolvendo a análise de perfis de difração de raios X (X-ray Line Profile Analysis - XLPA) para o estudo e determinação do tamanho médio de cristalitos e microdeformação em materiais. Para isto houve o desenvolvimento de um...
| Main Author: | |
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| Other Authors: | |
| Language: | Portuguese |
| Published: |
Universidade de São Paulo
2013
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| Online Access: | http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-10012014-103427/ |