"Aplicação da fluorescência de raios X (WDXRF): Determinação da espessura e composição química de filmes finos"
Neste trabalho é descrito um procedimento para a determinação quantitativa da espessura e composição química de filmes finos, por fluorescência de raios X por dispersão de comprimento de onda (WDXRFS), utilizando-se o método de Parâmetros Fundamentais (FP). Este método foi validado dentro dos pa...
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| Language: | Portuguese |
| Published: |
Universidade de São Paulo
2004
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| Online Access: | http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/85/85134/tde-06082007-150613/ |