Caracterização térmica de diodos-laser de potência para telecomunicações através da microscopia fototérmica

Caracterização térmica de diodos-laser de potência para telecomunicações através da microscopia fototérmica

Orientador: Antonio Manoel Mansanares === Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin === Made available in DSpace on 2018-07-22T19:41:05Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Dacal_LuisCarlosOgando_M.pdf: 5585941 bytes, checksum: d6deb34aa06dc25b2f27b1aab538...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Dacal, Luis Carlos Ogando
Other Authors: UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS
Format: Others
Language:Portuguese
Published: [s.n.] 1997
Subjects:
Lasers semicondutores
Análise térmica
Online Access:DACAL, Luis Carlos Ogando. Caracterização térmica de diodos-laser de potência para telecomunicações através da microscopia fototérmica. 1997. 143f. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/277320>. Acesso em: 22 jul. 2018.
http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/277320

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DACAL, Luis Carlos Ogando. Caracterização térmica de diodos-laser de potência para telecomunicações através da microscopia fototérmica. 1997. 143f. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/277320>. Acesso em: 22 jul. 2018.
http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/277320

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