Propriedades estruturais e eletrônicas de filmes ultra finos de In, Sn e Sb, crescidos sobre Pd (111), estudados por PED e XPS

Propriedades estruturais e eletrônicas de filmes ultra finos de In, Sn e Sb, crescidos sobre Pd (111), estudados por PED e XPS

Orientador: Richard Landers === Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin === Made available in DSpace on 2018-08-09T10:50:19Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Pancotti_Alexandre_M.pdf: 2977317 bytes, checksum: 914d690fda86677fcc9c894c6f408409 (MD5) P...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Pancotti, Alexandre
Other Authors: UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS
Format: Others
Language:Portuguese
Published: [s.n.] 2005
Subjects:
Elétrons - Difração
Espectroscopia de eletrons
Ligas (Metalurgia)
Superfícies (Física)
Difração eletrônica em baixa energia
Electrons - Diffraction
Electrons - Spectroscopy
Alloys
Surfaces (Physics)
Low energy electron diffraction
Online Access:PANCOTTI, Alexandre. Propriedades estruturais e eletrônicas de filmes ultra finos de In, Sn e Sb, crescidos sobre Pd (111), estudados por PED e XPS. 2005. 114p. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/277061>. Acesso em: 9 ago. 2018.
http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/277061

Internet

PANCOTTI, Alexandre. Propriedades estruturais e eletrônicas de filmes ultra finos de In, Sn e Sb, crescidos sobre Pd (111), estudados por PED e XPS. 2005. 114p. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/277061>. Acesso em: 9 ago. 2018.
http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/277061

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