Estudo do comportamento termodinamico de dispositivos MOS submetidos a radiações ionizantes

Estudo do comportamento termodinamico de dispositivos MOS submetidos a radiações ionizantes

Orientador : Edmundo da Silva Braga === Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica === Made available in DSpace on 2018-07-14T04:19:52Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Takeuti_DouglasdeFreitas_M.pdf: 6264981 bytes, checksum: caefffe7e4c66b3d55cacbb8f8d9e...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Takeuti, Douglas de Freitas
Other Authors: UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS
Format: Others
Language:Portuguese
Published: [s.n.] 1992
Subjects:
Microeletrônica
Engenharia elétrica
Online Access:TAKEUTI, Douglas de Freitas. Estudo do comportamento termodinamico de dispositivos MOS submetidos a radiações ionizantes. 1992. [109]f. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/261358>. Acesso em: 14 jul. 2018.
http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/261358

Internet

TAKEUTI, Douglas de Freitas. Estudo do comportamento termodinamico de dispositivos MOS submetidos a radiações ionizantes. 1992. [109]f. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/261358>. Acesso em: 14 jul. 2018.
http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/261358

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